JM540BD明暗场金相显微镜（半导体晶圆/PCB切片检测）

产品概述：

JM540BD研究级材料检测显微镜，是一款高端研究级明暗场半复消金相显微镜，搭载无限远半复消光学体系，集成落射、透射双光路照明，标配明场、暗场、偏光、可升级DIC 微分干涉等多重观测模式，专为精密工业材料微观检测打造。整机适配半导体晶圆、FPD面板、PCB 线路板切片、金属金相试样、高分子复合材料、导电粒子等各类样品分析，选配相机可同步完成尺寸测量、微观形貌观测、晶体组织判定、表面高低差浮雕成像。

性能特点：

◆无限远半复消光学系统，成像通透

普通消色差物镜在大倍率下容易出现边缘模糊与色差。JM540BD标配半复消校正物镜，对球差、色差、场曲进行完善校正，明暗场成像通透锐利，视场边缘无明显畸变，满足研究级高精度成像要求，长时间观察眼睛不易疲劳。

◆落射+透射双照明，一台覆盖两类样品

落射光用于观察金属、芯片、PCB 等不透光固体样品；透射光适配薄膜、薄片、透明高分子材料。两套光路独立设计、互不干扰，一台设备覆盖两类样品的检测需求，不用额外添置机型。

◆明场/暗场/偏光标配，可升级 DIC

标配明场与暗场两种基础观测模式，内置整套偏振光学组件。加装DIC微分干涉棱镜后，可利用相位差呈现样品表面的微小高低差浮雕效果，导电粒子、细微划痕、微观台阶的成像对比度显著提升。

◆360°旋转检偏，切换角度不挪样品

检偏器支持360°自由旋转，观察时无需移动样品即可连续切换偏振角度，直接观察晶体、薄膜、镀层的光学各向异性，避免因样品移位影响测量精度。

◆模块化插板式设计，按需扩展

光路采用插板式组件结构，起偏镜、检偏镜、DIC 棱镜均可快速拆装，后期可根据检测需求灵活选配功能模块，设备不会因为功能升级而被淘汰。

◆工业机身，适合长期批量作业

机身机械结构精密顺滑，光路密封防尘，适配实验室科研与工厂产线批量抽检。成像一致性稳定，长期使用不易出现光衰与对焦偏移。

适用场景:

半导体与显示

用于晶圆表面缺陷、导电粒子、FPD 面板微观结构观察。明暗场结合可清晰呈现颗粒与表面起伏，满足来料检验与失效分析需求。

电子制造

适用于 PCB 线路板切片、焊点、镀层厚度分析。长工作距物镜可直接观察较厚的镶嵌试样，配合测量软件可完成镀层厚度定量分析。

金属材料

用于晶粒度评定、夹杂物观察、镀层与涂层检测。暗场模式下可清晰分辨非金属夹杂物，是冶金与机械行业质检的常用配置。

常见问题

Q：明场和暗场怎么切换？需要换物镜吗？

A：不需要。通过反射照明器上的明暗场切换模块操作，切换后重新对焦即可，物镜可以复用。

Q：能拍照并自动测量吗？

A：可以。选配 1200 万或 2000 万像素工业相机，配合图像处理软件可实现拍照、录像、尺寸测量、实时图像拼接与景深融合。

Q：JM540BD 和 JM430 有什么区别？

A：JM540BD 为明暗场机型，标配暗场与偏光并支持 DIC 升级，适合对表面缺陷和晶体组织有分析需求的场景；JM430 为基础明场机型，更适合常规组织观察，预算也更友好。

Q：支持定制选配吗？交期多久？

A：支持按检测场景定制配置（物镜倍数、相机像素、软件模块等）。常规配置现货供应，特殊选配请致电 13338661226 确认交期。

可升级的选购附件

 物镜 | 100X NA0.90 WD1.0 高倍物镜，用于观察微米级细节

干涉组件 | DIC 微分干涉板，用于呈现表面微小高低差

工业相机 | 1200万 / 2000万像素，用于拍照、录像与测量

图像分析软件 | 支持拍照、录像、测量、实时拼接、景深融合

标尺 | 高精度测微尺，格值 0.01mm，总长 1mm

制样设备 | 可搭配切割机、镶嵌机、磨抛机，组成完整金相制样方案

装箱清单

1、JM540BD 金相显微镜主机

2、无限远长工作距明暗场半复消物镜 × 4（5X/10X/20X/50X）

3、高眼点大视野目镜 PL10X/23mm × 2

4、起偏镜插板、检偏镜插板

5、0.65X 专用摄像接口

6、防尘罩与电源线

7、说明书与保修卡

◆ 技术参数：