JM435研究级透反射正置金相显微镜
JM435研究级透反射金相显微镜，23mm宽视场光学设计，硬件编码联动图像分析软件，独立光强记忆，物镜独立调中心；上下两路10W柯勒LED透反射照明，支持偏光检测；用于 PCB 电路板、半导体芯片、金···
产品内容介绍
◆ 产品简介：
仪卡墨JM435科研级透反射式工业检测显微镜，采用无限远半复色差校正光学系统，搭配4500K大功率 LED柯拉照明，成像清晰锐。整机人体工学结构设计，长时间观测不易疲劳；支持明场、偏光、可选配暗场、微分干涉等多种观察模式。观察半导体PCB检测、金属金相分析、镀层分析、导电粒子检测、材料表面划痕缺陷观察等应用场景可拓展4K高清成像、USB3.0图像采集、景深图像融合、图片拼接、金相组织分析、精密尺寸测量等电脑成像分析系统，适用于工厂质检实验室、高校科研院所、第三方材料检测机构。
◆ 功能特点：
◆ 23mm宽视场光学设计：
宽光束成像光路，选配支持25mm大视野范围观察，单次观测视野更大，减少样品移动频次，大幅提升样品筛查效率，适合大面积样品快速巡检。
◆ 高性能5孔编码式物镜转换器（带DIC插槽）：
五孔编码可调中物镜转盘，精密轴承转动结构，转动顺滑，重复定位精度优异。
◆ 硬件编码联动图像软件：
显微镜识别当前使用物镜倍率，自动同步到电脑图像分析软件，自动调取对应倍率校准参数，规避人工选错倍率带来的尺寸测量失误；
◆ 独立光强记忆功能：
每一支物镜可以单独保存照明亮度，切换不同放大倍率时LED亮度自动跟随调用预设参数，无需反复手动调节灯光；
◆ 物镜独立可调中心：
每颗金相物镜均可单独做中心校正，消除倍率切换后的光路偏移，高倍下不容易丢失观测视场。
◆ 柯拉LED落射照明（反射光路）：
上照明采用10W大功率暖白光LED柯拉照明系统，使用寿命长，发热低。视场光阑、孔径光阑全部拉杆式中心可调，可灵活收束照明范围，有效抑制杂散光干扰，进一步提升显微图像对比度；
◆ 偏振检测系统：
镜体预留起偏镜、检偏镜、干涉滤色片插槽；同时设置物镜防撞上限位保护机构，调焦过程可限制下移行程，防止物镜镜头撞击样品，保护贵重物镜与试样。
配置起偏镜插板与 360° 可旋转检偏镜；无需移动样品，旋转检偏镜即可观察不同偏振角度下样品光学响应；适合晶体材料、半导体晶圆、PCB基材、各向异性材料偏光分析。
◆ 透射光路优质消色差聚光镜系统：
下透射照明同样配置 10W 大功率暖白光 LED 光源；摇出式NA0.9消色差聚光镜，孔径光阑可居中调节，透射光通量高，适合透明、半透明样品透射观察。
◆ 稳固机械调焦与载物平台
低手位粗微调同轴调焦机构，粗调行程 30 mm，微调精度可达 0.0012 mm；调焦松紧阻尼可以调节，同时配置样品高度限位机构；允许被测样品最大高度40 mm。双层机械式 XY 移动载物台，平台整体尺寸 240 mm×175 mm；标准玻璃载物台面尺寸 101 mm×101 mm，XY 方向移动行程 75 mm×50 mm；可按需选配金属专用反射样品压板载物台。
◆ 技术参数：
光学系统 | 无限远色差校正光学系统 |
观察筒
| 30°倾斜式无限远铰链三目观察筒；瞳距调节范围：50‑75 mm；单边视度补偿调节：±5 屈光度；分光两档切换 R:T=100:0（双目观察） /50:50（摄像分光） |
目镜 | 高眼点大视野平场目镜 SWH10X/Φ23mm，支持视度微调 |
金相物镜 | 无限远半复消色差明场金相物镜：5X、10X、20X、50X |
物镜转换器
| 5 孔编码可调中物镜转盘；预留DIC微分干涉插槽；倍率编码输出，可联动图像软件；独立保存各物镜照明亮度；单颗物镜可独立做光路中心校正；设置防撞限位保护 |
粗微调调焦机构
| 粗微同轴低手位调焦；粗调行程：30 mm；微调精度：0.0012 mm；阻尼松紧可调；带样品上限位；最大允许样品高度：40 mm |
载物台
| 双层机械移动平台；平台外形 240 mm×175 mm；标准玻璃台面 101×101 mm；XY 移动行程 75 mm×50 mm；可更换反射金属样品载物板 |
上落射照明（反射） | 宽电压自适应 100-240V AC，50/60Hz；10W 大功率暖白 LED 柯拉照明；视场光阑、孔径光阑拉杆居中可调；集成明暗场切换拨杆，附带中性滤色镜联动护眼设计；预留偏振滤色片插槽 |
下透射照明 | 宽电压自适应 100‑240V AC，50/60Hz；10W 大功率暖白 LED 透射光源 |
聚光镜
| 摇出式消色差聚光镜，NA0.9；可变孔径光阑，中心可调 |
偏振附件
| 起偏镜插板；360° 旋转检偏镜 |
摄像接口
| C接口摄像端口0.65X，可选用 1X、0.5X 可调焦摄像适配镜 |
随机配件 | 金相高精度测微尺（格值 0.01 mm）；操作手册；防尘罩；工具套件 |
可拓展成像方案 | 4K 高清成像系统、USB3.0 高速图像采集系统、超景深深度融合成像系统、金相组织分析软件系统、精密测量分析软件系统（可按需选配） |
◆ 适用行业与试样：
1、PCB 电路板、FPC 柔性线路板、导电粒子压痕检测（选配微分干涉）；
2、半导体芯片、晶圆表面微观缺陷检查；
3、金属零部件金相组织分析、镀层厚度观测；
4、新材料、复合材料、晶体简易偏光观察；
5、精密零部件表面划痕、毛刺、损伤质检；
6、高校及科研实验室材料微观分析。
