JM540BD科研级材料检查金相显微镜

研究级明暗场半复消金相显微镜，适用于半导体、PCB、金属材料微观检测。

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JM1005三目倒置金相显微镜

JM1005三目倒置金相显微镜搭载无限远光学系统，支持偏光观测，双光路可外接摄像装置，搭配金相分析软件。适用于金属、矿物样品金相组织观察，满足冶金、机械、铸件质量检测···

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JM-SWIR系列短波红外显微镜

仪卡墨 M-SWIR系列短波红外显微镜，采用 InGaAs 红外成像方案，900-1700nm 波段实现硅材料穿透式无损观测，无需破坏芯片样品，高效检测晶圆隐裂、芯片内部裂纹、空洞、线路···

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JM462三目大平台正置金相显微镜

JM462三目大平台正置金相显微镜，配置 8 英寸大行程载物台，支持大工件检测；内置推拉式偏光组件，自由切换明场 / 偏光观察。采用无限远平场消色差光学系统，30° 倾斜三目···

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JM580BD科研级晶圆检测显微镜

JM580BD科研级晶圆检测显微镜搭载无限远半复消光学系统，支持明场/暗场/偏光/DIC 微分干涉观测，8 英寸大工作台，适用于晶圆、芯片、FPD、PCB 切片缺陷检测与金相量化分析。···

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JM700原位电化学枝晶显微镜

仪卡墨光学JM700原位电化学枝晶显微镜,搭载密封式原位电化学观测池，支持移入手套箱；充放电工况下原位观测锂、钠、钾、锌金属负极枝晶生长演化，适配锂金属电池、水系锌离···

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JM500便携式金相显微镜

JM500磁力便携式金相显微镜，工业现场无损金相检测设备，磁力底座直接吸附工件，电池 LED 照明，100-400 倍放大，适配金属焊缝、铸件、新材料微观组织观察，可加装摄像系统···

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JM430科研级三目正置金相显微镜

JM430 科研级三目正置透反射金相显微镜搭载落射透射双照明系统，无限远平场消色差物镜，内置偏振装置，可观测金属、镀层、切片、薄膜样品；支持外接高清相机与金相分析软件···

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4XC三目倒置金相显微镜

4XC三目倒置金相显微镜采用柯勒照明方式，配置长距离平场消色差物镜与大视野平场目镜，图像平坦清晰；双层机械移动载物台，支持两路光路输出，可接摄像成像系统与金相分析软···

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JM420正置三目金相显微镜

JM420正置三目金相显微镜，落射照明 + 内置偏光，搭载长距平场消色差物镜，专为金属、矿物等不透明试样金相组织观测；三目摄像接口可接相机与金相分析软件，学校科研工厂质···

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