JM410三目透反射正置金相显微镜-金相显微镜厂家-半导体检测
仪卡墨光学JM410三目透反射正置金相显微镜，采用无限远光学系统与落射、透射双照明，支持明场、偏光及图像采集，适用于金属、半导体、精密零部件等材料组织分析，可选配CCD、相机与分析软件。
产品内容介绍
JM410三目透反射正置金相显微镜产品简介
JM410是一款面向材料分析与工业检测的三目透反射正置金相显微镜。设备采用无限远校正光学系统和长工作距平场消色差物镜，同时配置落射与透射双照明，可观察不透明金属样品，也可观察透明或半透明材料。
该显微镜适用于金属材料、电子半导体、精密零部件、焊接组织、涂层与镀层等样品的微观组织观察，可配CCD、数码相机和金相分析软件，方便完成图像采集、测量、保存与报告输出。
适用行业与检测对象
金属材料：钢铁、铝合金、铜合金、焊接接头和热处理组织。
电子半导体：晶圆、芯片、引线、焊点和电子元器件表面观察。
精密制造：刀具、轴承、齿轮、涂层、镀层和零部件表面质量检测。
科研教学：材料学、矿物学、精密工程等实验室观察与分析。
质量检测：来料检验、生产过程控制和失效分析。
核心配置与功能特点
无限远校正光学系统，搭配长工作距离平场消色差物镜。
落射照明与透射照明可独立使用，兼顾金属和透明样品。
铰链式三目观察头，支持目视观察和摄像输出。
内置起偏镜和检偏镜，检偏镜可360度旋转调节。
粗微调同轴调焦机构，带松紧调节和防止载物台下滑装置。
双层机械移动载物台，X、Y方向同轴控制。
视场光阑与孔径光阑中心可调，便于减少杂光并提高成像对比度。
技术参数
| 项目 | 配置 |
|---|---|
| 观察头 | 铰链式三目观察头，30度倾斜，50:50分光，瞳距54mm-75mm |
| 目镜 | 高眼点大视野WF10X，视场直径20mm |
| 物镜 | 无限远长工作距平场消色差物镜5X、10X、20X、50X，100X可选 |
| 总放大倍数 | 50X-500X，选配100X物镜后最高可达1000X |
| 物镜转换器 | 内定位四孔转换器 |
| 调焦机构 | 粗微同轴调焦，粗调行程23mm，微调精度2μm |
| 载物台 | 双层机械移动载物台190mm×150mm，移动范围76mm×50mm |
| 落射照明 | 5W LED暖白光，柯拉照明，亮度可调 |
| 透射照明 | 3W LED，亮度可调 |
| 聚光镜 | 阿贝聚光镜，NA1.25，带可变光阑，中心可调 |
| 摄像接口 | 0.5X摄像接口 |
可选配置
100X无限远长工作距平场消色差物镜。
USB、HDMI、Wi-Fi或高清工业相机。
金相组织分析软件、基本测量软件和图像报告模块。
可按使用需求配置样品夹具、载物台附件和光学附件。
JM410适合哪些用户
如果主要观察金属、半导体、焊接组织、涂层或精密零部件，并希望同时具备目视观察、偏光观察和图像采集功能，JM410适合作为实验室或工厂质检用机型。若只需透明生物样品观察，可优先考虑生物显微镜；若主要观察晶体和矿物双折射现象，可同时了解偏光显微镜。
常见问题
JM410能否观察透明或半透明样品？
可以。JM410同时具备落射和透射照明，可切换用于不透明金属样品以及透明或半透明样品观察。
JM410能否连接电脑进行测量和分析？
可以选配工业相机、数码相机和金相分析软件，实现图像采集、尺寸测量、组织统计和报告输出。
是否支持定制和批量采购？
可提供型号配置、摄像系统、分析软件和批量采购方案，具体配置可根据样品类型、观察方式和预算确认。
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