POL30-4H偏光显微镜熔点仪｜显微熔点晶体热分析设备

◆ 产品简介：

POL30-4H偏光显微熔点仪是科研级偏光显微镜POL30配套HT-4H加热台温控装置的显微热分析系统，独立数字温控部分可调节室温～360°C，依托高精度温度传感器，可实现样品的匀速升温、恒温保温，在偏光光路下实时观测微量样品晶体形态变化、熔融过程、晶型转变、双折射消光现象，精准判定初熔、终熔温度，完成显微熔点测定。可外接显微镜成像相机，对升温全过程进行拍照、录像留存实验影像数据，便于后期数据分析与报告输出。

设备适用于有机晶体、药物多晶型、高分子聚合物、合成纤维、树脂、矿物材料等样品的热行为研究；满足塑料熔融温度测试、纤维熔点鉴别等相关检测，是化工、制药、新材料企业研发质检以及高等院校、科研院所材料热态表征的实验设备。

◆ 功能特点：

◆ 偏光高清成像+原位变温观测一体化

设备为晶体热分析定制，科研级偏光光路可清晰呈现样品双折射、晶型纹理、消光变化，搭配高精度加热台实现升温、恒温、降温全过程原位显微观测，可直观捕捉熔融、相变、结晶等微观动态

◆ 专业偏光光学配置

无限远消色差光路，全套消应力平场物镜；360°可旋转检偏镜组，中心可调勃氏镜；标配λ片、λ/4片、石英楔子全套补偿器件，满足各类偏光干涉观测。

◆ 智能编码联动系统

物镜编码识别，切换物镜自动同步软件校准参数，规避测量失误；亮度记忆功能，不同物镜切换自动匹配照明亮度，提升工作效率。

◆ 光路兼容无损，偏光观测不受干扰

透光热台光路结构适配正交偏光、锥光、单偏光观测模式，加热台不遮挡光路、不影响偏振效果，高温状态下依旧保持高清偏光成像效果，保证实验数据与显微图像一致性、真实性。

◆ 科研级稳定结构，安全耐用易操作

显微镜机身光学系统稳定、成像色差小、倍率精准；加热台采用隔热防护结构，高温工作状态下外壳安全防烫，无需水冷，安装简单、调试便捷，长期实验重复性好，适配高校实验室、企业研发、质检常态化使用。

◆ 适配成像记录，可全程影像留存

整套组套可升级选配显微镜相机使用，支持升温过程拍照、录像、定时记录，完整保存晶体相变、熔融全过程影像，方便实验溯源、数据对比、报告输出，适配科研论文、质检检测、研发备案场景。

◆ 技术参数：