JM540BD科研级材料检查金相显微镜

产品概述：

JM540BD研究级材料检测显微镜，是一款高端研究级明暗场半复消金相显微镜，搭载无限远半复消光学体系，集成落射、透射双光路照明，标配明场、暗场、偏光、可升级DIC 微分干涉等多重观测模式，专为精密工业材料微观检测打造。整机适配半导体晶圆、FPD面板、PCB 线路板切片、金属金相试样、高分子复合材料、导电粒子等各类样品分析，选配相机可同步完成尺寸测量、微观形貌观测、晶体组织判定、表面高低差浮雕成像。

性能特点：

◆无限远半复消明暗场光学系统

标配半复消校正物镜，完善校正球差、色差、场曲，明暗场成像通透锐利，边缘无畸变，满足研究级高精度成像标准，长期观测视觉舒适。

◆落射+透射双独立照明系统 双光路分离设计，落射光观测金属、芯片、PCB 等不透光固体样品；透射光适配薄膜、薄片、透明高分子材料，一套设备覆盖两类样品检测需求。

◆多功能集成观测模块（明场 / 暗场 / 偏光 / 选配DIC 微分干涉） 集成明场、暗场基础观测模式；内置整套偏振光学组件；可加装 DIC 微分干涉棱镜，利用相位差呈现样品表面微小高低差浮雕效果，导电粒子、细微划痕、微观台阶成像对比度显著提升。

◆360°无旋转载物台检偏结构，检偏器支持 360° 自由旋转，观测时无需挪动样品，直接切换偏振角度观察晶体、薄膜、镀层的光学各向异性，操作便捷，避免样品移位影响测量精度。

◆工业精密检测适配性强 专为中小尺寸半导体晶圆、FPD显示屏、PCB切片、金相试样开发，可完成微观尺寸测量、缺陷筛查、材料组织结构分析，消除观测杂散光，细微纹路、颗粒清晰可见。

◆模块化拓展设计 光路采用插板式组件设计，起偏镜、检偏镜、DIC棱镜均可快速拆装，按需选配功能模块，灵活匹配不同检测场景，支持搭配工业相机、图像分析软件，实现拍照、测量、数据存档一体化。

◆整机稳定耐用，适配长期批量质检 机身机械结构精密顺滑，光路密封防尘，适配实验室长期科研、工厂产线批量抽检，成像一致性稳定，长期使用不易出现光衰、对焦偏移问题。

◆ 技术参数：