JM430科研级三目正置金相显微镜
JM430 科研级三目正置透反射金相显微镜搭载落射透射双照明系统，无限远平场消色差物镜，内置偏振装置，可观测金属、镀层、切片、薄膜样品；支持外接高清相机与金相分析软件，适配工厂质检、高校···
产品内容介绍
◆ 产品简介：
JM430 科研级三目正置透反射金相显微镜，搭载落射和透射双独立照明系统，采用无限远平场消色差光学架构，既能观测金属、镀层、半导体等不透明试样，也可观察薄膜等透明样品。设备内置偏光组件，100% 透光摄影；整机模块化设计，可灵活选配 CCD 相机、高清摄像仪、金相组织分析软件，完成试样图像采集、存储、测量、粒度统计、金相评级全流程工作。
应用于金相分析、材料缺陷检测、镀层厚度观测、精密工程、电子元器件质检、高校科研教学、实验室检测等场景，是工业质检、材料研发领域的光学检测仪器。
◆ 功能特点：
◆ 配置大视野目镜和无限远平场消色差物镜，像差校正完善，成像均匀锐利，高倍观测边缘无畸变。
◆ 三目镜筒,自由切换正常观察与偏光观察，支持 100% 透光摄影，外接成像设备无光路损耗。
◆ 内置推拉式检偏器与起偏器，适合观察高反光材料的表面。
◆ 粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带锁紧和限位装置，微动格值:2μm
◆ 配置落射与透射两套照明系统，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察
◆ 技术参数：
目镜 | 大视野 WF10X(视场数Φ22mm) |
无限远平场 消色差物镜 | PLL5X/0.12 工作距离：26.1 mm |
PLL10X/0.25 工作距离：20.2 mm | |
PLL20X/0.40 工作距离：8.8mm | |
PLL40X/0.60 工作距离：3.98 mm | |
PLL80X/0.80 工作距离：1.25mm | |
目镜筒 | 30˚倾斜,瞳距调节范围53~75mm. |
调焦机构 | 粗微动同轴调焦机构，粗调松紧可锁定，带限位防撞镜保护，微动格值 2μm，微调精度高，高倍对焦不打滑、不易压伤物镜与试样 |
转换器 | 五孔(内向式滚珠内定位) ，物镜卡位精准、转动顺滑，定位重复性高 |
载物台 | 双层机械移动式载物台, 外形尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm，移动顺滑不卡顿 |
落射照明系统 | 12V30W卤素灯亮度连续可调，标配 RGB 三色滤色片、磨砂玻璃片；内置视场光栏、孔径光栏、滤色片切换机构、推拉式检偏器与起偏器，适配高反光金属、镀层、半导体试样观测。 |
透射照明系统 | 阿贝聚光镜 NA1.25 可升降，集成内置视场光栏、蓝滤色片与磨砂片，适配切片、薄膜、透明试样显微观察 |
◆ 可升级的选购附件：
名称 | 类别/技术参数 |
目镜 | 分划目镜10X（Φ22mm） |
物镜 | 明场物镜 50X、60X、100X（干式） |
CCD接头 | 整机预留标准 CCD 接口，可加装 0.5XCCD 接头 |
摄像仪 | USB输出高清500-4500万像素相机，HDMI输出相机，WIFI相机等等 |
分析软件 | 专业金相分析软件，支持尺寸测量、粒度统计、金相组织评级、矿相分析，可对接实验室检测系统，实现数字化存档与批量数据分析。 |
